截取錐的產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　經(jīng)過(guò)精密設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的大錐孔采樣錐和截取錐具有優(yōu)良的長(zhǎng)期穩(wěn)定性并且不易堵塞，從而既能在高進(jìn)樣速度也可在低進(jìn)樣速度的條件下進(jìn)行分析。鎳是一種適用于大多數(shù)樣品類(lèi)型的非常堅(jiān)固耐用的材料，而鉑是腐蝕性較強(qiáng)樣品的材料。

 

　　這些產(chǎn)品經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)具有信號(hào)穩(wěn)定性并且在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行含高濃度固溶物的樣品時(shí)可更大限度減少堵塞。持續(xù)暴露于等離子體和樣品中的采樣錐使用一種非螺紋式插入-拔出設(shè)計(jì)，便于快速拆除。

 

　　截取錐如何判斷該清洗或更換：

　　清潔錐體的頻率在很大程度上取決于該設(shè)備的應(yīng)用和工作負(fù)荷。如果進(jìn)樣很干凈，設(shè)備使用率較低，錐體只需每月清潔一次。但如果連續(xù)使用設(shè)備和/或進(jìn)樣包含高濃度的溶解固體或腐蝕性非常強(qiáng)，錐體就需要每天清潔。

 

　　如果在錐孔附近出現(xiàn)可見(jiàn)沉積物或如果錐孔被阻塞或扭曲，則應(yīng)該對(duì)錐體進(jìn)行清潔。ICP-MS性能的劣化也可作為需要清潔錐體的指示信號(hào)。尤其是出現(xiàn)背景信號(hào)增多、記憶效應(yīng)、靈敏度降低或波峰形狀扭曲等情況。設(shè)備真空讀數(shù)的改變也說(shuō)明錐體可能出現(xiàn)問(wèn)題。如果錐孔被阻塞，真空讀數(shù)會(huì)增加(壓力降低)，盡管在這之前通常已經(jīng)出現(xiàn)性能劣化。如果真空讀數(shù)降低(壓力增加)，則可能表示錐孔已磨損，大小有所增加。出現(xiàn)這種情況需要更換錐體。

 

　　采樣錐需要接觸離子溶液，通常清潔頻率要比截取錐高一些。如果清潔錐體之后設(shè)備性能沒(méi)有恢復(fù)，那么您需要更換錐體。